レーザー干渉計 F601
ガラス、金属、セラミック等の平面度またはレンズ、金型等の球面精度・曲率半径を測定します。 有効光束径はφ60mm 独自のアライメント機構で反射光を素早く見つけられるため、測定時間を短縮できます。 現場での実績はNo.1で標準検査機として使用されています。
小口径レーザー干渉計 FI251N/FI251LN
小口径の測定物を高倍率で拡大測定できるレーザー干渉計です。 CD、DVD等対物レンズの透過波面測定や光ピックアップ光学系部品の平面度、透過波面精度測定に最適です。
レーザー干渉計 G102/S
φ102mmまたはφ150mmの有効光束径で高精度平面板(ガラス、金属、セラミック等)の平面度測定を行ないます。 6倍ズーム付きで、小物部品にも対応します。 G102Sは裏面ノイズキャンセルも可能な高機能タイプで、厚さ0.1㎜以上の平行平面ガラスの測定が可能です。 スイッチの切り替えで通常の干渉計としても使用できます。
小口径２波長レーザー干渉計 DW10
DVD/CD-R、CD-RW兼用ピックアップの対物レンズの透過波面検査用レーザー干渉計です。 波長はBlue-rayディスク(405nm)、DVD用(650nm)、CD・CD-R用(790nm)の中から2つを選択できます。 A1解析装置を標準装備。
干渉縞解析装置 A1
Windows2000・XP対応の高機能干渉縞解析装置です。 P-V値、RMS値、鳥瞰図、等高線図、断面図、ザイデル収差、ゼルニケ多項式係数をわかりやすく表示する解析ソフトです。
自動調芯接合機 OptiCentric Bonding Station
Trioptics調芯機は、ユーザの仕様に合わせ汎用タイプ（R0.3～450ｍｍ）、専用機種に合わせたタイプで製作できます。 面間偏芯測定を応用した最適光軸調芯（特許申請中）及び従来型の基準軸調芯の2種類ございます。 調芯レンズのサイズや偏芯感度により最適な自動調芯ステージをご提案致します。
高精度偏芯測定装置 OptiCentric MOT
偏芯測定に特化した装置で、高精度かつ簡単に被検レンズの偏芯を測定します。 内視鏡などの小径レンズ、小型のガラスモールド、プラスチック成形レンズ（Φ0.7〜30ｍｍ）、焦点距離±0.5〜200mm(透過偏芯測定範囲)、曲率半径±0.3〜450mm(反射偏芯測定範囲)の測定が可能です。
組レンズ用高精度面間偏芯測定装置 OptiCentric Dual MOT
レンズ群、ユニットの状態でレンズデータを入力し、物体側と像面側からの両方向より各面の偏芯を測定します。 独自に開発した組レンズ用の測定アルゴリズムと解析ソフト（特許出願中）と高精度エアベアリング回転テーブル（離芯誤差0.05μm）を使用することで、レンズ各面の偏芯量とその位置を高精度に測定します。 測定...
高精度偏芯測定装置 非球面軸測定オプション OptiCentric AsphereCheck
非球面軸の倒れを非接触、高精度、簡単に測定します。 基準軸の選択はメカ二カル基準もしくは光軸基準のどちらかを任意に決定でき、基準軸を回転軸に合わせる必要も無く測定作業に熟練を要しません。 自動測定のOptiCentric DUAL MOT測定装置本体により基準軸を決定し、共焦点クロマティックセンサーにて基準軸に対する...
レンズ定数測定装置 OptiSpheric
小径レンズ(Φ1mm〜Φ35mm)を対象とした有効焦点距離(EFL)バッフォーカス(BFL)、MTF(軸上)、曲率半径、偏芯(透過,反射)の測定が1台で行える測定装置です。 各測定における測定精度は国際規格に準拠しており、絶対精度の保証と安定した繰返精度が得られます。 装置の光学系はシンプルかつ構造も頑丈でメンテナンスフリーの...
汎用型自動MTF測定装置 Image Master HR
比較的小型の撮像光学系を対象としたMTF測定及び収差解析を行います。 被検試料の仕様により、最適な光学系倍率、イメージアナライザー、測定波長、共役長など様々なセットアップが変更でき、ユーザに最適な仕様にてMTF測定機を製作します。 有限時の測定では物体距離移動範囲 5〜500mm（標準） 物体高 ±250mm （標準）
自動高速MTF測定装置 Image Master Pro9
モバイル機器用小型カメラと小型デジタルカメラを対象としたMTF評価装置です。 サンプルの脱着が簡単かつ測定からデータ取り込みまで短時間にて行うことができる、生産現場での使用を配慮した測定機です。
透過波面測定装置 Wave Master R.I.
球面・非球面レンズを対象とした透過波面収差測定装置です。 収差補正された良好な結像光学系から収差の大きな単レンズまでも高速・高精度にて透過波面を評価できます。 ゼルニケ収差、2D/3D WaveFront, -Fringe -Phase, Comparison, リアルタイム-チルト, -ディフォーカス調整など各種解析が可能です。
自動高速透過波面収差測定装置（量産全数測定） Wave Master Pro Wafer
携帯電話カメラ用Wafer Lensや各種マイクロレンズアレーの全数波面収差測定を行います。 PV値、RMS値、Zernike解析、設計値やマスターに対する差など任意の合否判定を規格できます。 サイクルタイムは1個辺り2.5秒、この時間内にオートフォーカス、射出瞳径の全波面収差（合否判定）、高精度なフランジバック測定、次へ...
高精度プリズム角度測定装置 PrismMaster
高精度かつ簡単に被検プリズムの頂角を測定します。 今まで透過方式で裏面反射が弱いために測定ができなかった小さな試料(1m㎡)に対しても、問題なく測定が可能です。 三角プリズム、ウェッジプリズム、ペンタプリズム、ポリゴンミラー、ルチル結晶ウェッジなどの評価に最適です。
電子式オートコリメータ TriAngle
ピクセル幅の校正を行ったCCDカメラを使い高分解能、高精度で検出できますので、従来のオートコリメータの“高精度＝視野が狭い“という問題がありません。 トレーサビレティはドイツ国立研究所（PTB)と確立しております。(TAシリーズ)
組レンズ測長用 中心厚・面間隔測定装置 OptiSurf
Optisurfは、組レンズ内のレンズ個々の中心厚及びレンズ間の空気間隔を低コヒーレンス干渉計計測原理を用いて、非接触で測定します。 ＜測定範囲＞200mm（OptionでMax800mm） 測定精度＜1μm ＜測定時間＞高速ラインスキャン Scan 200mm=15秒以下
高精度光学式距離センサー Chromatic Confocal sensor
高さの変位を、非接触、簡単、高精度、高速に測定します。 ナノオーダーの測定精度、ミクロンオーダーの範囲の距離を非接触にて1KHzのスピードで計測する測長センサーです。
分光光度計 U4100
光を試料溶液に照射させて、可視紫外域波長での試料の吸光度を測定し、目的成分を定量分析します。 短波長域から近赤外域まで精度よく測定可能な高感度積分球と、大型試料の非破壊を可能にする超大型試料室の組合せ等、様々な要求にこたえるシステム構築が可能です。
基盤欠陥可視化装置 VMXシリーズ
アルミディスクやガラスディスク及びシリコンウェーハなどの超微細欠陥を対象としたマクロ欠陥装置です。 表面のミクロンオーダーの微細なスクラッチ・ピットを広大な視野で検出します。 暗視野または明視野の仕様があります。
ラップドウェーハ水中キズ検査装置 LS-1200
シリコンウェーハ/ラップ面の表面状態を湿式にて検証し、鮮明にモニター上に表示する目視検査装置です。 エッチング前のラッピング面欠陥を検査する事により、ラッピング工程での定盤及び研磨剤管理に有効です。
ナノインプリント用外観検査装置 VDM
ハードディスクの次世代技術として注目されるDTM、BPMに対応したナノインプリント用原盤やインプリント後のメディア対象の外観検査装置です。 DTMパターン異常、グルーブのムラ、サーボパターン観察、研磨キズ、洗浄キズ、打痕圧痕、荒れ、うねり、汚れ、洗浄シミ、ピット、割れ、気泡、パーティクル等の検査が出来ます。
ボイド・クラック・チッピング評価・検査装置
各種ウエハー接合部のボイド評価・検査 ダイシング後のチッピング評価 MEMSデバイス評価・検査 COG接合部評価・検査。SOI接合部評価 低倍でのマクロ欠陥から高倍でのミクロ分析まで一台で対応
微細形状測定システム UMAP VISION SYSTEM
先端球径Φ30μm、軸長2mmの極小スタイラスで微細な形状のタッチ測定を実現しました。 燃料噴射ノズルや化繊ノズルなどの微細穴の内面形状やワイヤーカット、マイクロマシンなどのよる微細加工部の寸法測定に最適です。 画像プローブを標準装備しており、微細部分の狙い込みが可能な他、画像測定も可能です。
測定顕微鏡 MFシリーズ
フレアの少ない鮮やかな正立像広視野観察が可能。 粗微動フォーカスハンドルをコラム両サイドに標準化します。 二次元データ処理装置や微動付回転テーブルなど多彩なオプションを用意しております。
非接触３次元CNC画像測定装置 QSシリーズ
測定したい箇所付近をクリックするだけで、形状認識→測定ツールの配置→エッジ検出→演算までの作業を自動的に実行します。 QSシリーズは簡単な操作・低価格をコンセプトとして開発されました。 カラーCCDカメラを採用し、ズームレンズ搭載機も準備致します。
芯出し顕微鏡CM-100α/ 画像処理システムIPS-5000
新開発の光学系により今まで測定できなかった短焦点レンズの偏芯測定を、透過方式で可能にしました。 画像処理システムIPS-5000と組み合わせて、精度の高い偏芯測定が可能です。
レンズ芯出顕微鏡 CM-127/106
レンズの偏芯量を測定する装置です。レンズの貼りあわせ時の芯合わせ、芯取りの芯ずれ量や方向を高精度に読み取る事ができます。 対物：10× 接眼:10× 被検レンズEFL:30〜300mm 最小分解能:20′′
近赤外顕微分光測定機USPM-RU-W
可視光領域から 近赤外領域まで(380nm-から1050nm)の幅広い波長での分光測定をスピーディー＆高精細に行います。通常の分光光度計では測定できない、微小エリアや、曲面の反射率が 容易にできるため、光学素子や微小電子部品などにも最適です。オプションで透過率測定や入射角45度の反射率測定も可能です。
顕微鏡用ＬＥＤリング照明
実態顕微鏡の照明装置も従来の蛍光ランプからＬＥＤへ変わりつつあります。 LEDで消費電力削減、CO2排出量削減、長寿命、管理工数大幅減、トータルランニングコスト削減にお役立て下さい。
光学除振台
トッププレートの優れた平坦度と着磁性ステンレスをトップおよびボトムプレートに用いた、熱影響を受けないデザインです。 3層スチール板、2層ハニカムコア構造による、非常に低レベルの静的および動的たわみ特性 を持ち合わせています。 マウント用タップ穴を一対毎にシールし、掃除を容易にするターボクリーンTMシステ...
防振台
その防振の優秀性から4インチの小口径から32インチの大口径レーザー干渉計や非接触三次元超高分解能表面形状測定器などわずかな振動にも影響されやすい機器の防振システムとして、研究開発や製造ラインの測定機器用に採用されています。
