精密測定機

HOME > 取扱い商品|株式会社マブチ・エスアンドティー > 精密測定機 > 自動高速透過波面収差測定装置(量産全数測定) Wave Master Pro Wafer

携帯電話カメラ用Wafer Lensや各種マイクロレンズアレーの全数波面収差測定を行います。
PV値、RMS値、Zernike解析、設計値やマスターに対する差など任意の合否判定を規格できます。
サイクルタイムは1個辺り2.5秒、この時間内にオートフォーカス、射出瞳径の全波面収差(合否判定)、高精度なフランジバック測定、次へのレンズへの移動時間を含んだ時間です。


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