平面形状測定用 低コヒーレンス干渉計 OptoFlat 低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を簡単に測定することが可能です。小型かつ安定した機械設計でありながら、従来の干渉計と比較して低価格になっています。 【市場背景】 【OptoFlatの優位性】 【操作手順】 【ディスク測定仕様】